光电探测器噪声分类

　　光电探测器噪声分类：
 

　　光电探测器噪声包括:散弹噪声、热噪声、产生-复合噪声、1/f噪声和温度噪声等。
 

　　1、散弹噪声：由于光电探测器在光辐射作用或热激发下，光电子或载流子随机产生造成的。存在于真空发射管和半导体器件中，属于白噪声。
 

　　2、热噪声：暗电流大小与偏压、温度及反向饱和电流密切相关。PN结外加正向偏压，暗电流随外加电压增大成指数急剧增大，远大于光电流，因此加正偏压无意义。PN结外加反向偏压，暗电流随反向偏压增大有所增大，*后等于反向饱和电流，其值远小于光电流。
 

　　3、产生-复合噪声：半导体中载流子产生与复合的随机性而引起的载流子浓度的起伏。与散弹噪声本质相同，都是由于载流子随机起伏所致，所以有时将该噪声归并为散弹噪声。不是白噪声，低频限噪声。是光电探测器的主要噪声源。
 

　　4、1/f噪声：(又称电流噪声、闪烁噪声或过剩噪声)，低频噪声，几乎所有探测器都存在。探测器表面工艺状态对该噪声影响很大。频谱近似与频率成反比。主要出现在1kHz以下的低频区，工作频率大于1kHz时，与其他噪声相比可忽略。
 

　　5、倍增噪声：光电倍增管。
 

　　6、雪崩噪声：雪崩光电二极管。
 

　　7、温度噪声：热探测器本身吸收和传导等热交换引起的温度起伏。