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光电探测器噪声分类

更新时间:2022-06-22      点击次数:5530
  光电探测器噪声分类:
 
  光电探测器噪声包括:散弹噪声、热噪声、产生-复合噪声、1/f噪声和温度噪声等。
 
  1、散弹噪声:由于光电探测器在光辐射作用或热激发下,光电子或载流子随机产生造成的。存在于真空发射管和半导体器件中,属于白噪声。
 
  2、热噪声:暗电流大小与偏压、温度及反向饱和电流密切相关。PN结外加正向偏压,暗电流随外加电压增大成指数急剧增大,远大于光电流,因此加正偏压无意义。PN结外加反向偏压,暗电流随反向偏压增大有所增大,*后等于反向饱和电流,其值远小于光电流。
 
  3、产生-复合噪声:半导体中载流子产生与复合的随机性而引起的载流子浓度的起伏。与散弹噪声本质相同,都是由于载流子随机起伏所致,所以有时将该噪声归并为散弹噪声。不是白噪声,低频限噪声。是光电探测器的主要噪声源。
 
  4、1/f噪声:(又称电流噪声、闪烁噪声或过剩噪声),低频噪声,几乎所有探测器都存在。探测器表面工艺状态对该噪声影响很大。频谱近似与频率成反比。主要出现在1kHz以下的低频区,工作频率大于1kHz时,与其他噪声相比可忽略。
 
  5、倍增噪声:光电倍增管。
 
  6、雪崩噪声:雪崩光电二极管。
 
  7、温度噪声:热探测器本身吸收和传导等热交换引起的温度起伏。
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